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Industrial Quality Solutions
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ZEISS METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout

La résolution par excellence pour l'inspection et la métrologie par scanner CT

ZEISS METROTOM 6 scout numérise les pièces complexes, y compris les géométries internes, au niveau de détail le plus avancé. Le résultat est une image 3D complète pour l'analyse GD&T ou les comparaisons cible/réel. Le système de métrologie CT est un excellent choix pour numériser les petites pièces en plastique.

  • Très haute résolution
  • Haut niveau de précision
  • Positionnement automatique de l'objet
  • Logiciel tout-en-un
ZEISS METROTOM 6 Scout
Contact

Mesures à haute résolution de petites pièces en plastique

ZEISS METROTOM 6 scout est la solution parfaite pour le contrôle non destructif et la métrologie 3D des composants. Des performances de mesure avancées et un flux de travail continu garantissent une fiabilité et une précision maximales dans la détection des défauts.
Révéler ce qui est caché avec d'autres technologies
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Résolution

Lors de la numérisation d'une pièce, le ZEISS METROTOM 6 scout atteint une netteté de détail exceptionnelle : D'une part, parce qu'il utilise un détecteur de rayons X 3k à haute résolution pour acquérir les données de mesure et, d'autre part, parce que chaque pièce est mesurée dans la meilleure position possible et donc toujours avec la plus haute résolution possible. Le résultat est visible sur l'image : À gauche, les données de mesure générées avec le ZEISS METROTOM 6 scout et à droite, l'étalon habituel.

Garantit une haute précision

Garantit une haute précision

Précision

Le ZEISS METROTOM 6 scout utilise l'intelligence mathématique pour générer ses données de mesure 3D précises. Tout au long du processus de mesure, il associe des algorithmes parfaitement interconnectés à une modélisation numérique de la salle de mesure. Il offre également une stabilité mécanique optimisée pour tous les composants importants pour la mesure. La ligne du bas : Sur la base des résultats de mesure, vous pouvez évaluer la qualité d'une pièce de manière vraiment fiable et très précise et procéder à une analyse plus approfondie.

Centrage automatique des pièces

Un système cinématique à 5 axes avec une table de centrage intégrée positionne la pièce de manière optimale dans le volume de mesure. Il suffit de le placer dans la salle de mesure de la machine - le reste est fait par le logiciel.

  • ZEISS INSPECT X-Ray

    Analyse complète des données 3D avec la tomodensitométrie

    Le logiciel ZEISS INSPECT X-Ray offre un flux de tâches tout-en-un, de l'acquisition des données à l'analyse conviviale en passant par la reconstruction. Il permet une évaluation complète des données de tomodensitométrie, automatisée ou personnalisée, et convient même aux débutants. Les géométries, les cavités de retrait ou les structures internes et les assemblages peuvent être analysés avec précision. Même les petits défauts sont visibles sur les images en coupe. Vous pouvez également charger les données volumétriques de plusieurs composants dans un projet, effectuer une analyse de tendance et comparer les résultats aux données CAO, le tout dans un seul logiciel.

  • Détection automatisée des défauts avec ZADD Segmentation

    L'intelligence artificielle dans la tomographie numérique

    L'application ZADD Segmentation pour ZEISS INSPECT X-Ray détecte de manière fiable, rapide et automatique les défauts les plus petits et les moins nets. Grâce à de puissants modèles d'IA, ZADD Segmentation peut localiser les défauts présents dans le scan CT. Plusieurs modèles d'IA sont disponibles pour des applications telles que les pièces moulées, les pièces moulées par injection et les composants imprimés.

  • ZEISS PiWeb

    Transformer des données de qualité en résultats probants

    Le logiciel de création de rapports et de gestion des données de qualité ZEISS PiWeb permet de relier les résultats métrologiques des différentes technologies de mesure aux décisions de l'atelier afin d'assurer un suivi efficace de la qualité de votre production et des résultats immédiats. Utilisez ZEISS PiWeb pour réaliser des études ISO, contrôler la qualité de la gestion des données, travailler avec des données manuelles, créer des statistiques puissantes et profiter de divers modèles de rapports standard prêts à l'emploi.

Caractéristiques du logiciel pour l'acquisition et la reconstruction d'images

Réaliser des mesures CT efficaces avec ZEISS INSPECT X-Ray
  • Réduction des artefacts multi-matériaux

    Réduction des artefacts multi-matériaux

    Vos pièces sont plus détaillées lors du passage du métal au plastique. La correction des artefacts multi-matériaux réduit considérablement les artefacts qui se produisent lors de la numérisation de pièces composées de matériaux et d'épaisseurs différents, en particulier dans les pièces de type connecteur composées de métal et de plastique.

  • Extension du champ de vision vertical

    Extension du champ de vision vertical

    Le système de positionnement de haute précision, qui tire parti de notre expertise en matière de mesures tactiles, a permis d'augmenter la taille des composants pouvant être reconstruits dans le système jusqu'à 400 mm de hauteur. Résultat, les grands composants peuvent être entièrement capturés en un seul processus automatisé, éliminant ainsi la nécessité d'un repositionnement et d'un alignement chronophage de la part de l'utilisateur.

  • Mesure en demi-cercle

    Mesure en demi-cercle

    Le demi-cercle est un mode de mesure dans lequel une pièce ne doit effectuer qu'un peu plus d'une demi-rotation au lieu d'une rotation complète, permettant de scanner des régions spécifiques dans des pièces avec une résolution plus élevée qui serait autrement limitée géométriquement avec une rotation complète.

  • Séparation

    Séparation

    La séparation automatique augmente la productivité en numérisant plusieurs composants à la fois et en les évaluant automatiquement séparément, ce qui réduit considérablement le temps de numérisation et l'interaction avec l'opérateur.

ZEISS METROTOM

Caractéristiques techniques

Fonctionnalité

Source de rayons x

225 kV

Détecteur de rayons X

Résolution : 3008 x 2512 pixels

Zone de mesure

d : 240 mm
h : 400 mm

Taille du voxel

2 µm - 80 µm

Dimensions

H. 2210 mm
l. 2200 mm
D. 1230 mm

Poids

4800 kg

Champ d'application

Contrôle du premier article, correction de l'outil, contrôle en cours de production

Caractéristiques de mesure

Structures internes, épaisseur de la paroi, défauts du matériau, pores et cavités de retrait

Tâches de mesure

Analyse GD&T, écart nominal-réel, analyse d'assemblage

Téléchargements

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