Oppervlakte-inspectiesysteem, beschikbaar in verschillende versies en systeemconcepten

ZEISS ABIS II

Optische oppervlakte-inspectiesensor ZEISS ABIS II detecteert een breed scala aan defecten.

Objectieve en snelle meting met modulaire sensoren

Met de ABIS II-sensoren kan een breed scala aan defecten worden gedetecteerd. Met een betrouwbare, vroegtijdige herkenning en classificatie van deuken, bulten, sink marks, golving, vernauwingen, scheuren, etc. vormen de systemen de perfecte kwaliteitscontrole-instrumenten voor de productie van plaatwerkonderdelen en bodies-in-white. De gebruikers profiteren vooral van de hoge precisie en de extreem korte cyclustijden.

De modulaire sensortechnologie van ABIS II biedt een uitzonderlijk hoge flexibiliteit. Met de optionele integratie van de contrastsensor is ook de detectie van contrastgevoelige defecten zoals lijmresten, krassen en vuil mogelijk.

Continue analyse van de oppervlaktekwaliteit in de gehele procesketen

Veel gebruikers in de automobielindustrie vertrouwen op een geïntegreerde analyse van de oppervlaktekwaliteit in de gehele procesketen. Na elk van de processtappen Single Part, Assembly en Cathodic Dip Painting worden de afzonderlijke onderdelen opnieuw onderzocht door middel van dezelfde inspectietoepassing om eventuele oppervlaktedefecten op te sporen die de topcoatkwaliteit zouden kunnen beïnvloeden. De ontwikkeling van een defect wordt na elke processtap gedocumenteerd. Uit de praktijkervaring in de productie blijkt dat de relevantie van een oppervlaktedefect na een processtap kan toenemen of afnemen.

Optische oppervlakte-inspectiesensor ZEISS ABIS II detecteert een breed scala aan defecten.
Optische oppervlakte-inspectiesensor ZEISS ABIS II detecteert een breed scala aan defecten.

Op basis van een procesbrede kwaliteitsanalyse wordt de vereiste herwerking precies op de gewenste locatie van het onderdeel en op de vereiste processtappen uitgevoerd. Dit verhoogt de efficiëntie in het afwerkingsgebied en resulteert in een aanzienlijke kostenbesparing. Naast de ontwikkeling van een oppervlaktedefect in de gehele procesketen, geven de tijdsgebonden veranderingen binnen een productieperiode de gebruikers ook belangrijke informatie over de kwaliteitsveranderingen. Wanneer bijvoorbeeld de auditwaarde verslechtert, kunnen er in een vroeg stadium corrigerende maatregelen worden genomen (bijvoorbeeld met betrekking tot persparameters of gereedschapsoppervlakken) voordat er onderdelen met defecten worden geproduceerd die later opnieuw moeten worden bewerkt.

Geïnteresseerd in ZEISS ABIS II? Neem dan contact op!

Vul uw gegevens in en wij nemen contact met u op om uw vragen te beantwoorden: