Mobiel oppervlaktemeetinstrument met een elegant ontwerp

HANDYSURF +

HANDYSURF is used to measure, evaluate and document surface roughness

Eenvoudige kwaliteitsbewaking tijdens het hele productieproces

De eenvoudige oplossing om oppervlakteruwheid te meten, te evalueren en te documenteren – tijdens het hele proces van binnenkomende goederen naar productie tot eindinspectie.

HANDYSURF+

Mobiel oppervlaktemeetinstrument

Met een strakker ontwerp, nieuw 2.4-inch LCD-kleurenscherm en een verbeterde gebruikersinterface voor intuïtieve bediening maakt de HANDYSURF+ eenvoudige kwaliteitsbewaking mogelijk voor het meten van oppervlakteparameters tijdens het hele productieproces. Het is een ideale oplossing voor de mechanische, automobiel- en medische sector.

Flexibel gebruik

HANDYSURF+ is een flexibel en robuust meetinstrument voor horizontale en verticale metingen en metingen boven het hoofd, dat eenvoudig naar het werkstuk kan worden gebracht.

Gebruiksvriendelijkheid

HANDYSURF+ voldoet aan alle algemene oppervlaktestandaarden (ISO, DIN, CNOMO, ASME en JIS), ondersteunt 20 talen en kan worden verbonden met een PC, printer of USB-stick via een ingebouwde USB.

Groter meetbereik

HANDYSURF+ heeft een meetbereik van 370 µm – de breedste in zijn klasse – zonder dat dit ten koste gaat van zijn resolutie van 0,0007 µm.

Verbeterde analyse

HANDYSURF+ biedt grafische weergaven van metingen met parameters en golfvorm voor verificatie ter plaatse en kan verscheidene analyses uitvoeren, zoals BAC, ADC, het aantal pieken (RPc) en motieven.

Voordelen

  • Gebruiksvriendelijk, mobiel en flexibel voor metingen, analyses en documentatie
  • Compact ontwerp
  • Werk snel dankzij de automatische functie voor meetbereik, totale padlengte, cut-off en vergroting
  • Kan worden verbonden met elke ZEISS 3D-meetmachine via een ZEISS CALYPSO-interface
  • Oppervlakteanalyses in overeenstemming met alle algemene standaarden: ISO, DIN, CNOMO, ASME en JIS
  • De interface kan worden verbonden met een aparte analysecomputer
  • Meet in verschillende posities: horizontaal, verticaal en boven het hoofd
  • Optionele driver voor horizontale tracering om in de axiale richting te meten in krappe ruimtes
  • Resolutie: tot 10 nanometer
  • Uitgebreide accessoires (printer, kolommen, extensies, kabels, printpapier)

Technische gegevens en specificaties

  • Verkrijgbaar in drie modellen: 35, 40 en 45, met styluspuntradiussen van 2 of 5 µm (model 45 is alleen verkrijgbaar met een styluspuntradius van 5 µm)
  •  Z-meetbereik: -210 tot +160 µm
  •  Z-meetresolutie: 0,0007 µm
  •  Materiaal styluspunt: diamant